| 发明名称 |
SCALE CALIBRATION MARK FOR MICROSCOPE |
| 摘要 |
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| 申请公布号 |
JPS5243449(A) |
申请公布日期 |
1977.04.05 |
| 申请号 |
JP19760118450 |
申请日期 |
1976.09.30 |
| 申请人 |
ROCKWELL INTERNATIONAL CORP |
发明人 |
GANTAAUIRUHERUMU DABAAKO |
| 分类号 |
G01D7/00;G01B9/04;G01B11/00;G01D13/12;G02B27/32 |
主分类号 |
G01D7/00 |
| 代理机构 |
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代理人 |
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| 主权项 |
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| 地址 |
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