| 发明名称 | 一种交流发光芯片通断测试方法和装置 | ||
| 摘要 | 本发明公开了一种交流发光芯片通断测试方法和装置，其特征在于:其包括底座、压板及扣合机构，底座或压板内可设置交流发光芯片测试电路；所述底座上表面设有可放置被测发光芯片的测试平台；所述压板与测试平台相对的表面设有若干顶针，所述顶针与交流发光芯片测试电路电联接；在底座上设有扣合机构，通过该扣合机构可将扣合在测试平台上的压板压紧；底座上还设有控制测试电路的控制开关；采用本发明可方便、安全、高效地检测出发光芯片的质量。 | ||
| 申请公布号 | CN106249132A | 申请公布日期 | 2016.12.21 |
| 申请号 | CN201610790819.1 | 申请日期 | 2016.08.31 |
| 申请人 | 中山昂欣科技有限责任公司 | 发明人 | 李克坚;桑钧晟 |
| 分类号 | G01R31/28(2006.01)I | 主分类号 | G01R31/28(2006.01)I |
| 代理机构 | 中山市高端专利代理事务所(特殊普通合伙) 44346 | 代理人 | 袁媛 |
| 主权项 | 一种交流发光芯片通断测试方法和装置，其特征在于:其包括底座、压板及扣合机构，底座或压板内可设置交流发光芯片测试电路；所述底座上表面设有可放置被测发光芯片的测试平台；所述压板与测试平台相对的表面设有若干顶针，所述顶针与交流发光芯片测试电路电联接；在底座上设有扣合机构，通过该扣合机构可将扣合在测试平台上的压板压紧；底座上还设有控制测试电路的控制开关。 | ||
| 地址 | 528400 广东省中山市翠亨新区临海工业园翠城道临海厂房C栋第一层 | ||