| 发明名称 |
COMPENSATION OF STRAIN OF INTERFACE CIRCUIT IN AUTOMATIC TEST DEVICE |
| 摘要 |
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| 申请公布号 |
JPS5915875(A) |
申请公布日期 |
1984.01.26 |
| 申请号 |
JP19830090111 |
申请日期 |
1983.05.24 |
| 申请人 |
FAIRCHILD CAMERA & INSTRUMENT CORP |
发明人 |
DENISU MEIYAA |
| 分类号 |
G01R31/26;G01R31/28;G01R31/319;H01L21/66 |
主分类号 |
G01R31/26 |
| 代理机构 |
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代理人 |
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| 主权项 |
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| 地址 |
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