串行线调试桥

摘要

本申请涉及串行线调试桥。提供了具有用于与调试器对接的桥的集成电路(IC)和操作其的方法。在一种实施例中，IC包括调试控制电路和在其上实现的调试接口模块(DIB)。该DIB耦接到调试控制电路。该IC还包括用于调试器的接口和多个用于外部电路的接口，每个接口耦接到调试控制电路。调试控制电路可以用作通过接口中的对应接口将外部调试器耦接到DIB或耦接到与IC耦接的外部电路的桥。调试控制电路可以建立调试器和外部电路中的一个外部电路之间的连接。调试器和外部电路之间的通信可以在绕过DIB的同时进行。

主权项

一种集成电路IC，包括：调试控制电路；调试接口模块DIB；调试器接口，被配置为将所述调试控制电路耦接到外部调试器；以及多个外部接口，每个外部接口被配置为将所述调试控制电路耦接到多个外部电路中对应的一个外部电路，其中所述调试控制电路被配置为建立所述外部调试器和所述多个外部电路中的至少一个外部电路之间的连接，并且其中在所述调试控制电路建立所述连接之后，所述调试控制电路被配置为在绕过DIB的同时促进所述多个外部电路中的所述至少一个外部电路和所述调试器之间的通信。