| 主权项 |
1.一种可程式化测试装置系包括:a)用来接收界面装置之连接装置,此界面装置系被用来将具有数位,类比或混合电子装置之受测试单元配合至该测试装置;b)微处理机型系统滙流线装置;c)连接至该微处理机型系统滙流线装置之微计算机装置,此微计算机装置包括用来执行一测试程式,以测试该受测试单元的操作之装置;d)与该微计算机装置相关联且连接至该微处理机型系统滙流线装置之记忆器装置;e)连接至该微处理机型系统滙流线装置且包括用来将该测试程式由外部软体站中馈入该微计算机记忆器装置的装置之微处理机控制装置;f)经由该微处理机型系统滙流线装置,连接至该微处理机控制装置与该微计算机装置之可程式化激源产生装置;g)经由该微处理机型系统滙流线装置,连接至该微处理机控制装置与该微计算机装置之可程式化响应测量装置;h)用来选择性将该激源产生装置与该响应测量装置经由该界面装置连接至该受测试单元之可程式化交换装置,该交换装置系对该微处理机控制装置作响应且经由交换控制滙流线装置连接至该微处理机控制装置;i)经由第一专用滙流线连接至该微处理机控制装置之字数显示装置;及j)经由第二专用滙流线,连接至该微处理机控制装置且包括用来发动执行该测试程式之装置的键盘装置。2.如请求专利部分第1项所述之可程式化测试装置,其中该界面装置包括用来不变地储存测试程式,以测试该受测试单元的操作之装置;其中该微处理机控制装置包括用来馈载该储存测试程式之装置,以取代由外部软体站中馈出该测试程式之装置。3.如请求专利部分第1或2项中所述之可程式化测试装置,其保包括经由该微处理机型系统滙流线装置,连接至该微处理机控制装置与该微计算机装置之可程式化数位讯号产生装置,以及用来经由该界面装置,使资料直接与该受测试单位相通讯之装置。4.如请求专利部分第1或2项中所述之可程式化测试装置,其保包括用来使外部仪器连接至该微处理机型系统滙流线装置之IEEE一488相容界面装置。5.如请求专利部分第2项中所述之可程式化测试装置,其中该界面装置包括用来达成与外部记忆器装置资料相通讯之装置。6.如请求专利部分第1项中所述之可程式化测试装置,其中该界面装置包括用来储存以高阶语言形式写入且转换成直译码格式,以便测试该受测试单元的操作的程式之装置;其中该记忆器装置包括用来不变地储存编译程式,以便编译直译码格式测试程式之装置;该微处理机控制装置包括用来馈载该储存直译码格式测试程式而非来自外部软体站的测试程式之装置,亦包括经由该微处理机型系统滙流线装置,连接至该微处理机控制装置与该微计算机装置之可程式化数位讯号产生装置,以及经由该界面装置,达成与该受测试单元之直接资料相通讯的装置;用来使外部机器连接至该微处理机型系统滙流线装置之IEEE一488相容界面装置。7.如请求专利部分第1项中所述之可程式化测试装置,其中该微计算机装置包括用来执行以高阶语言形式写入且转换成直译码格式,以便测试该受测试单元的操作之程式的装置;其中该记忆器装置包括用来不变地储存直译码格式测试程式之装置;其中该微处理机控制装置包括用来将直译码格式测试程式馈入该微计算机记忆器装置之装置,亦包括经由该微处理机型系统滙流线装置,连接至该微处理机控制装置与该微计算机装置之可程式化数位讯号产生装置,以及经由该界面装置,达成与该受测试单元之直接资料相通讯的装置;用来便外部仪器连接至该微处理机型系统滙流线装置之IEEE一488相容界面装置。8.如请求专利部分第6或7项所述之可程式化测试装置,其中该键盘装置包括用来修正该测试程式之装置。9.如请求专利部分第8项中所述之可程式化测试装置,其中高阶语言为ATLAS。10.如请求专利部分第9项中所述之可程式化测试装置,其中该微处理机控制装置包括用来达成与外部软体站之资料相通讯的装置,该软体站包括用来将ATLAS语言测试程式转换成直译码格式之装置。11.如请求专利部分第l0项中所述之可程式化测试装置,其中该测试界面装置包括用来达成与外部记忆器装置之资料相通讯的装置。 |
