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La méthode consiste à utiliser un diffractomètre sensible à la position ayant deux ou plusieurs ensembles de canaux dans son détecteur, lesquels sont disposés les uns par rapport aux autres et par rapport au faisceau à rayons X (96) de telle sorte que, lorsqu'ils sont positionnés de manière appropriée par rapport à un échantillon (12), les surfaces sensibles aux rayons X des ensembles détecteurs (32) interceptent le faisceau diffracté et le convertissent en des informations utilisables pour déterminer la contrainte en quelques secondes. Le procédé de calibrage est critique. La nouvelle méthode de détermination de la contrainte comprend les étapes suivantes: 1) réception du faisceau diffracté sur la surface (32); 2) transmission de la position relative du faisceau vers une position éloignée; 3) analyse de l'image; 4) conversion de celle-ci en une image électrique correspondante; 5) transfert de l'image électrique vers un processeur de données approprié pour révéler l'angle entre le faisceau incident et la réflexion diffractée. La contrainte est calculée tout en étant corrigée pour l'échantillon par rapport à la distance du détecteur en utilisant les nouveaux paramètres de calibrage. On obtient une plus grande précision de mesure avec une grande tolérance pour la dimension entre les surfaces sensibles aux rayons X du détecteur (32) et l'échantillon ou spécimen (12). |
