发明名称 PROCEDE POUR MESURER LA CONFIGURATION DE CONTOUR D'UN OBJET DEFINI PAR DE NOMBREUSES PARTIES DE SURFACE CYLINDRIQUES
摘要 <P>L'invention concerne un procédé pour mesurer la configuration de contour d'un objet défini par de nombreuses parties de surface cylindriques, qui consiste à placer l'objet 1 sur une table tournante 2, à projeter des rayons de lumière parallèles sur l'un des côtés de l'objet, à détecter au moyen d'un organe récepteur de lumière 4 des variations, sous la forme d'une fonction L(theta), de positions L au niveau desquelles les rayons de lumière parallèles sont masqués par l'objet, à introduire des données de L(theta) ainsi détectées dans une mémoire d'un ordinateur, à calculer une valeur de L(theta)+L(theta+180degre(s)), à comparer la valeur ainsi calculée avec celle d'une configuration de contour idéale, et à corriger des déviations de position et d'angle de l'objet, pour obtenir une valeur de mesure exacte.</P>
申请公布号 FR2620817(A1) 申请公布日期 1989.03.24
申请号 FR19880012134 申请日期 1988.09.16
申请人 NGK INSULATORS LTD 发明人 MASAYASU MINAMIKAWA;YOSHIAKI ONABE;MASANAO OHNO
分类号 G01B11/24 主分类号 G01B11/24
代理机构 代理人
主权项
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