发明名称 METHOD OF DETERMINING THE CAPACITANCE OF THE SPATIAL CHARGE REGION IN A SEMICONDUCTOR, AND DIELECTRIC OF SEMICONDUCTOR STRUCTURES
摘要
申请公布号 SU1402201(A1) 申请公布日期 1989.10.23
申请号 SU19854030828 申请日期 1985.12.29
申请人 INST RADIOTEKH ELEKTRON 发明人 POLYAKOV V.I.,SU;PEROV P.I.,SU;ERMAKOVA O.N.,SU
分类号 H01L21/66 主分类号 H01L21/66
代理机构 代理人
主权项
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