发明名称 |
波形测量装置和脉冲光生成装置 |
摘要 |
本发明的波形测量装置具有:输入光谱取得部,取得作为脉冲光的强度光谱的输入强度光谱;光学元件,输入脉冲光,输出具有与脉冲光的相位光谱对应的强度光谱的光;输出光谱取得部,取得作为从光学元件输出的光的强度光谱的输出强度光谱;相位光谱确定部,将具有输入强度光谱和假想的相位光谱的脉冲光假设被输入到光学元件时所计算出的输出强度光谱、与在输出光谱取得部中取得的输出强度光谱进行比较,确定脉冲光的相位光谱。相位光谱确定部使控制相位光谱变形,设定假想的相位光谱。 |
申请公布号 |
CN106233107A |
申请公布日期 |
2016.12.14 |
申请号 |
CN201580020774.3 |
申请日期 |
2015.04.08 |
申请人 |
浜松光子学株式会社 |
发明人 |
井上卓;渡边向阳;高桥考二;松本直也 |
分类号 |
G01J11/00(2006.01)I;G02F1/01(2006.01)I |
主分类号 |
G01J11/00(2006.01)I |
代理机构 |
北京尚诚知识产权代理有限公司 11322 |
代理人 |
杨琦 |
主权项 |
一种波形测量装置,其特征在于,是对通过在呈现有基于用于控制脉冲光的时间波形的控制相位光谱的相位调制用全息图的空间光调制器中按每个波长调制包含2个以上的波长成分的输入光的相位而得到的所述脉冲光的时间波形进行测量的波形测量装置,具有:输入光谱取得部,取得作为所述脉冲光的强度光谱的输入强度光谱;光学元件,输入所述脉冲光,并输出具有与所述脉冲光的相位光谱对应的强度光谱的光;输出光谱取得部,取得作为从所述光学元件输出的光的强度光谱的输出强度光谱;相位光谱确定部,将具有所述输入强度光谱和假想的相位光谱的所述脉冲光假设被输入到所述光学元件时所计算出的所述输出强度光谱、与在所述输出光谱取得部中取得的所述输出强度光谱进行比较,确定所述脉冲光的相位光谱;和波形计算部,通过频率‑时间变换,基于在所述相位光谱确定部中确定的相位光谱和所述输入强度光谱,计算出所述脉冲光的时间波形,所述相位光谱确定部使所述控制相位光谱变形,设定所述假想的相位光谱。 |
地址 |
日本静冈县 |