| 主权项 |
1.一种从一组电波形中,获得每一波形之被选定的频率分量且以向量表示之方法,其步骤含:感测上述波形之每一波形之瞬时类比振幅,在取样周期内,周期性的产生上述每一波形之瞬时数立振幅,将上述之瞬时类比振幅以数位化并将之储存起来,以产生一储存的数位取样;且对上述之储存数位取样加以传统之波形分析流程,以将上述每一波形之频率分量表示或向量表示,此改善包含有:于每一取样周期内,依序的取样上述才波形的瞬时数位振幅,而产生上述波形之上述瞬时性的数位振幅取样;且依据于每一取样周期内,依据每一波形之取样所产生之时刻之间的距离,而对上述之传统的波形分析流程做一调整2.如申请专利范围第1项之方法,其中依序的产生每一波形之瞬时类比振幅之取样,此步骤包含有,将这一组波形之瞬时类比振幅,于上述之时序时刻时,多工至一个取样/保持线路。3.在申请专利范围第1项之方法,其中,上述之传统波形分析流程为一传氏流程,此流程将于每一取样周期内所产生之波形储存数位取样,关联至一选定好频率之参考正弦及余弦波,以产生直角坐标向量表示;而由于每一个波形取样所发生之时刻不同,故须藉着调整参考正弦及余弦波,而调整上述之全周传氏流程。4.如申请专利范围第1项之方法,其中,产生上述一组波形之上述瞬时类比振幅之上述取样,其包含了上述之依序取样,以使得上述各波形之振幅,于时间上差一已选定好之等时距;而其中之调整上述传统波形分析流程中,包含有,依每一取样周期内,各个波形之取样时间的上述时距数目,而调整上述之流程。5.如申请专利范围第4项之方法,其中,上述之传统波形分析流程,为一个全周传氏流程,其将一选定好频率之全周内,每一个取样周期内所产生之每一波形的储存数位取样,关联至一选定好频率之参考正弦及余弦波,以产生上述之直角坐标向量表示;且上述之全周传氏流程,及依每一取样周期内,各个波形之取样间的上述时距数目,而调整上述之参考正弦以及余弦波,且藉此以调整上述之流程。6.如申请专利范围第5项之方法,其中,在每一取样周期内,等时距地将上述之参考正弦以及余弦波储存起来;而上述之全周传氏流程,乃藉着选定每一波形之储存参考正弦及余弦数位取样与上述波形取样所产生之时刻间的关联性,而调整此一流程。7.如申请专利范围第6项之方法,其中,依序将每一波形之瞬时类比振幅取样之步骤,包含了将这一组波形之瞬时类比振幅,依一选定好之时距而多功至一取样/保持线路中。8.一种从三相电源传输线中,得到被选定之波形之60赫直角坐标分量之方法,其步骤包含有:感测上述选定好之波形之瞬时类比振幅,于60赫一周内之数个取机周期间,周期性的、且等时距的(此时距为事先选定好的)取样上述选定的波形中之瞬时类比振幅,将上述之瞬时类比振幅加以数位化,且将之储存起夹,以产生一个储存的数位波形取样;将每一周期之每一波形之储存的数位波形取样,经一个全周传氏流程关连至60赫参考正弦及余弦波形之数位储存取样;其中之正弦及余弦参考数位取样,乃依各个波形之数位取样时刻间的时距数目,而相对于各个波形调整正弦及余弦参考数位取样。9.如申请专利范围第8项之方法,其中,含有每一取样期内,上述之60赫参考正弦及余弦波之参考数位储存取样,而全周传氏流程,乃被做选定的调整,以调整于上述之波形的瞬时类比振幅取样产生时,所储存之参考正弦以及余弦数位取样波形。10.一种从一组电波形中,得到被选定之频率分量之装置,其包含有:一个于选定好频率之一周内的数个取机周期内,周期性的依序产生每一波形之等时距瞬时振幅之数位取样;以及一个被计划以将传统波形分析加至上述之数位波形取样之微处理机;且此微处理机亦被用以,依各个数位波形取样产生间的时距,而调整上述之传统流程,以得到每一波形之选定频率之直角坐标分量。11.如申请专利范围第10项之装置,其中,上述之微处理机是被计划以,将一全周传氏流程加至上述之数位波形取样,而将一全周传氏流程加至上述之数位波形取样;而上述之正弦及余弦波,及依上述各波形之数位取机产生之间的时距数目而调整的。12.如申请专利范围第11项之装置,其中,上述之产生数位波形取样之装置包含有:数位波形取样之装置包含有:用以产生每一波形之瞬时类比振幅信号之装置;一个用以取样及保持信号之取样/保持线路;一个选择性的将一个瞬时类比振幅信号连结至上述之取样/保持线路之多功器;以及一个类比/数位转换器,将将存于取样/保持线路中之瞬时类比振幅,转换至数位波形信号,且将上述波形信号送至此傲处理机;上述之机处理机,可被进一步的设计成,于一选定频率一周内的数个取机周期问,周期性的控制上述之多工器,以于上选定走好之等时距的时刻,依序将瞬时类比振幅信号送至上述之取样/保持总路;且此傲处理机亦控制了上述之取样/保持线路,以于上述时距储存此瞬时类比振幅信号,再用上述类比/数位转换器将之转换成类比波形取样。图示简单说明:图1a-g示出一个三相传输线中一个典形的波形,在此得到所选择之频率分量。图2a及b示出,本发明中一个典型之参考波形调整之情况,以得图1中波形之选择的频率分量。图3为本发明中之装置之方块图,其被用以得到图1中之波形之向量表示。 |
