发明名称 OXIDE SINTERED BODY SPUTTERING TARGET AND OXIDE SEMICONDUCTOR THIN FILM OBTAINED USING SPUTTERING TARGET
摘要 본 발명은 스퍼터링법에 의해 산화물 반도체 박막으로 한 경우에, 낮은 캐리어 농도, 높은 캐리어 이동도를 얻을 수 있는 산화물 소결체, 및 그것을 이용한 스퍼터링용 타겟을 제공한다. 그 산화물 소결체는, 인듐, 갈륨 및 아연을 산화물로서 함유한다. 갈륨의 함유량이 Ga/(In+Ga) 원자수비로 0.20 이상 0.49 이하이고 아연의 함유량이 Zn/(In+Ga+Zn) 원자수비로 0.0001 이상 0.08 미만이다. 이 산화물 소결체를 스퍼터링용 타겟으로서 형성한 비정질의 산화물 반도체 박막은, 캐리어 농도 4.0×10㎝이하로, 캐리어 이동도 10 ㎠/V·s 이상을 얻을 수 있다.
申请公布号 KR20160127732(A) 申请公布日期 2016.11.04
申请号 KR20167022418 申请日期 2015.02.12
申请人 SUMITOMO METAL MINING CO., LTD. 发明人 NAKAYAMA TOKUYUKI;NISHIMURA EIICHIRO;MATSUMURA FUMIHIKO;IWARA MASASHI
分类号 C04B35/453;C04B35/64;C23C14/08;C23C14/34;C23C14/58;H01L21/02 主分类号 C04B35/453
代理机构 代理人
主权项
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