发明名称 DOUBLE-BEAM SPECTROMETER
摘要 <p>Die Erfindung betrifft ein Zweistrahl-Spektrometer, bei dem ein Meßstrahl nach Durchgang durch eine Meßzelle und ein Referenzstrahl über jeweils zwei Eintrittsspalten in ein Spektrometer gelangen. Beide Strahlen werden von einem optischen Gitter spektral zerlegt. Das Spektrometer soll mit einer Single-Photodiodenzeile arbeiten. Erfindungsgemäß liegen die beiden Eintrittsspalten, der Mittelpunkt des Gitters und die Meß- und Referenzspektren in einer Ebene; beide Spektren werden auf einem einzigen Array-Detektor registriert, wobei sich das Spektrum des Meßstrahls der Ordnung +1 unmittelbar an das Spektrum des Referenzstrahls mit der Ordnung -1 anschließt.</p>
申请公布号 WO1991008454(A1) 申请公布日期 1991.06.13
申请号 DE1990000887 申请日期 1990.11.19
申请人 发明人
分类号 主分类号
代理机构 代理人
主权项
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