| 摘要 |
<p>Bei einem Verfahren zur optoelektronischen Vermessung der Form von Gegenständen wird der zu untersuchende Gegenstand (4) von Laserlichtquellen (5) beleuchtet, deren Lichtstrahl mittels einer nicht dargestellten Optik in eine Ebene aufgeweitet wird, so daß am Gegenstand (4) von jeder Laserlichtquelle (5) ein heller Streifen (6) abgebildet wird, wobei sich die Streifen in der Regel teilweise überlappen. Jeder Streifen (6) wird von einer Halbleiterkamera (7) aufgenommen, der ein Filter (8) vorgeschaltet ist, das nur das vom zugehörigen Laser (5) abgestrahlte Licht durchläßt. Die Laserlichtquellen (5) sind über Steuerleitungen (11) mit einer Steuereinheit (10) verbunden, die mit einer Auswerteeinheit (9) gekoppelt ist. Die Auswerteeinheit (9) umfaßt einen Rechner, dem die digitalisierten Videosignale der Kameras (7) zugeführt werden. Mit (12) ist eine Einheit zur Verarbeitung der Signale der einzelnen Kameras (7) zu den von jeder Kamera aufgenommenen Polygonschnitten, mit (13) eine Einheit zum Zusammenfügen der einzelnen Polygonzüge zum Umriß des Gegenstandes, mit (14) ein Monitor zur Darstellung des vermessenen Gegenstandes, mit (15) ein Drucker zum Ausdrucken der Abmessungen des Gegenstandes und mit (16) ein Plotter zur graphischen Aufzeichnung des Gegenstandes bezeichnet. Zur Annäherung bzw. Anpassung der Bildgröße des jeweiligen Lichtstreifens (6) an die Größe des jeweiligen Sensorelementes der Halbleiterkamera (7) wird der Abbildungsmaßstab verändert bzw. variiert bzw. die Meßfeldgröße der jeweiligen Kamera (7) in Abhängigkeit von der Größe der am Gegenstand (4) erzeugten Lichtstreifen (6) verändert bzw. an diese angepaßt.</p> |
