发明名称 DEVICE FOR MEASURING LINEAR DIMENSIONS ON A PATTERNED SURFACE
摘要 <p>Bei einer Anordnung zum Messen linearer Abmessungen auf einer strukturierten Oberfläche eines Meßobjektes (6), die aus einem Meßkopf (1) und einem Meßobjektträger (7) besteht, ist der Meßkopf (1) relativ zur Oberfläche des Meßobjektes (6) beweglich angeordnet. Im Meßkopf (1) ist eine Vielzahl von Sensoren (3) angeordnet, die je eine die Oberfläche des Meßobjektes (6) abtastende Tastspitze (4) aufweisen. In jedem Sensor (3) ist ein Meßwertwandler (8) zur Gewinnung von Tastsignalen und eine Stell- und Meßeinrichtung für eine Positionierung der jeweiligen Tastspitze (4) in Richtung senkreckt zur Oberfläche (5) des Meßobjektes (6) vorgesehen.</p>
申请公布号 WO1992008101(A1) 申请公布日期 1992.05.14
申请号 EP1991002087 申请日期 1991.11.05
申请人 发明人
分类号 主分类号
代理机构 代理人
主权项
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