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经营范围
发明名称
ABNORMALITY TREATMENT DEVICE OF IC TESTING APPARATUS
摘要
申请公布号
JPH0529430(A)
申请公布日期
1993.02.05
申请号
JP19910184694
申请日期
1991.07.24
申请人
ADVANTEST CORP
发明人
KATO YOSHIAKI
分类号
G01R31/28;G06F1/00;H01L21/66
主分类号
G01R31/28
代理机构
代理人
主权项
地址
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