| 发明名称 |
METHOD AND DEVICE FOR GENERATING AUTOMATIC INSPECTION TEST FUNCTION |
| 摘要 |
|
| 申请公布号 |
JPH06110734(A) |
申请公布日期 |
1994.04.22 |
| 申请号 |
JP19930183196 |
申请日期 |
1993.06.30 |
| 申请人 |
SUN MICROSYST INC |
发明人 |
RUIJI ARUBERUTO PIOODEIISABUOIA;JIYONASAN GIBONZU;JIEIMUZU DANIERU HARUPAAN;ROJIYAA HEIIZU |
| 分类号 |
G06F11/28;G06F9/06;G06F11/36;(IPC1-7):G06F11/28 |
主分类号 |
G06F11/28 |
| 代理机构 |
|
代理人 |
|
| 主权项 |
|
| 地址 |
|
