具空间光线调制器之雷射点像扫描器

摘要

本发明揭露一种扫瞄物体之系统。该系统包括一光源、一空间光线调制器（２２）、及适当之光学（１６，２０），用以引导来自光源之光至该空间光线调制器，以及至欲扫瞄之物体（２５）。作动该调制器（２２）上之各个元件，以反射该等像素宽度之光至该物体（２５）。安装一检测器（２６），以便接收来自欲处理物体（２５）之反射光。该系统可以是手提式，安装至一柜台内，或用于其它诸如边缘检测扫瞄器之应用中。

主权项

1.一种用以扫瞄物体之成像系统,包括:a.一光源;b.一空间光线调制器(SLM),用以由该光源引导光线至该物体;c.一检测器,用以接收由该物体反射之光线,及d.光学系统,用以由该光源引导光线至该SLM,并且由该SLM引导至该物体。2.一种扫瞄物体之方法,包括:a.由一光源提供照明;b.将该照明送至一空间光线调制器(SLM),其中该调制器具有一个别可定址之反射元件阵列,该可定址系指当该元件之一被定址时,该被定址元件能偏折;c.至少偏折该SLM上之一元件,以反射该照明之一部份至一物体;d.将该照明撞击在该物体上;及e.检测自该物体反射之照明光。图1显示一扫瞄系统,包括在一施利仑(Schlieren)光学系统中处于无作用状态下之空间光线调制器。图2A-2C显示一施利仑光学系统装置在开始,中间,结束时作动诸个别像素之光线。图3A显示一包括空间光线调制器与暗区光学之扫瞄系统。图3B显示一折合式暗区光学扫瞄系统,以配合一种手提式扫瞄单元。图4显示该检测器所接收资料之样本及其处理后结果。图5显示在一空间光线调制器上该等像素之摇摆式排列。图6A显示经过选址移位寄存器之可能数据流。图6B显示一数据流经选址移位寄存器之定时图