| 发明名称 |
METHOD OF MEASURING THE LENGTH OF LIFE OF SEMICONDUCTOR MINORITY CARRIERS |
| 摘要 |
|
| 申请公布号 |
PL164877(B1) |
申请公布日期 |
1994.10.31 |
| 申请号 |
PL19910289540 |
申请日期 |
1991.03.22 |
| 申请人 |
INSTYTUT TECHNOLOGII ELEKTRONOWEJ |
发明人 |
MALUTENKO WLADYMIR K.;TESLENKO GALINA I.;PIOTROWSKI TADEUSZ |
| 分类号 |
G01R31/26;(IPC1-7):G01R31/26 |
主分类号 |
G01R31/26 |
| 代理机构 |
|
代理人 |
|
| 主权项 |
|
| 地址 |
|
