| 发明名称 |
METHOD OF AND OPTOELECTRONIC SYSTEM FOR TWO-DIMENSIONAL DENSITOMETRIC ANALYSIS OF X-RAY MICROPHOTOGRAPHS |
| 摘要 |
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| 申请公布号 |
PL299493(A1) |
申请公布日期 |
1995.01.09 |
| 申请号 |
PL19930299493 |
申请日期 |
1993.06.28 |
| 申请人 |
INSTYTUT FIZYKI PLAZMY I LASEROWEJ MIKROSYNTEZY |
发明人 |
FARNY JOZEF;FIEDOROWICZ HENRYK;PARYS PIOTR;ZARUDZKI KRZYSZTOF |
| 分类号 |
G06K9/62;(IPC1-7):G06K9/62;G06F15/70 |
主分类号 |
G06K9/62 |
| 代理机构 |
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代理人 |
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| 主权项 |
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| 地址 |
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