发明名称 STOP LEVER OF SEMICONDUCTOR TEST SYSTEM
摘要
申请公布号 KR950002759(Y1) 申请公布日期 1995.04.13
申请号 KR19900010327U 申请日期 1990.07.13
申请人 GOLDSTAR ELECTRON CO., LTD. 发明人 RYU, DAE - HYON
分类号 G01R31/26;H01L21/66;(IPC1-7):G01R31/26 主分类号 G01R31/26
代理机构 代理人
主权项
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