| 主权项 |
1. 一种位准计,用在一程序应用内用以测量在一储槽内的产品高度,包含:一朝向该储槽内的微波天线;一与该天线间隔开的电子外壳;一耦合至该天线和该外壳的波导管用以传导该天线和该外壳间的微波辐射;一该外壳内的微波转换器耦合至发送和接收微波讯号的该波导管;一该外壳内的输出电路;及测量电路用以补偿来自具一紧邻该天线产生的微波反射之该产品的一微波反射,及回应地计算被供应至该输出电路的产品位准高度。2. 根据申请专利范围第1项之位准计,其中该储槽包括一微波透明孔及被安装在紧邻该孔的该天线。3. 根据申请专利范围第1项之位准计,其中该电子外壳被安装在紧邻的该储槽侧边。4. 根据申请专利范围第1项之位准计,其中该电子外壳被安装在一与该储槽间隔开的位置内。5. 根据申请专利范围第1项之位准计,包括一配电电路以耦合至一双线程序控制回路以供电该位准计。6.根据申请专利范围第1项之位准计,其中该输出电路包含一输入/输出(I/O)电路用以耦合至一程序控制回路及传送产品位准资讯于该回路之上。7. 根据申请专利范围第1项之位准计,其中该输出电路包含一显示器用以显示位准资讯给操作者。8. 根据申请专利范围第1项之位准计,包括微波电路,其调整该微波讯号频率及以接收到的微波讯号相对于发送微波讯号之相位为基础而供应一输出至该测量电路。9. 根据申请专利范围第1项之位准计,包括微波电路,其规律地输送该微波讯号及供应一输出至关于接收一微波脉波的该测量电路。10. 一微波位准计,在一程序应用内用以测量在一储槽内的产品高度,包含:一朝向该储槽内的微波天线朝向该产品;一耦合至具长度随温度变化的该天线之微波导管;耦合至该波导管之微波转换电路用以发送及接收讯号;及测量电路,用以测量该产品高度,及供应以来自该产品的一微波回音和一产生在紧邻该天线的微波回音为基础的一输出,其中该测量电路补偿在该波导管内之长度变化。11. 根据申请专利范围第10项之微波位准计,其中该微波讯号是频率调整的及该测量电路是回应一回音讯号的相位。12. 根据申请专利范围第10项之微波位准计,其中该微波讯号是脉波调整的及该测量电路是回应一回音讯号的时间延迟。13. 根据申请专利范围第10项之微波位准计,其中该测量电路被安装在一基座上。14. 根据申请专利范围第10项之微波位准计,其中该测量电路被安装在该储槽的一侧上。15. 根据申请专利范围第10项之微波位准计,包括一耦合至显示该输出的该测量电路之一显示器。16. 根据申请专利范围第10项之微波位准计,包括输出电路用以耦合该测量电路输出至一双线程序控制回路。17. 根据申请专利范围第10项之微波位准计,包括一电源供应器用以耦合至一双线程序控制回路及供应电源至该位准计。图示简单说明:图1图示先前技艺顶端安装微波位计;图2图示一微波位准计;图3是距离和讯号强度之对照表;图4是一频率调整持续波形微波位准感测器之方块图;图5是一飞行时间微波位准感测器之方块图;图6图示根据另一实施例的微波位准计;及 |
