发明名称 Vorrichtung zur Halterung zu einer Halbleiterplatte
摘要 Vorrichtung zur Messung und/oder Analyse einer Eigenschaft eines Mediums ausgestaltet zum Empfang eines Laserlichts im MIR-Bereich und aufweisend einen Grundkörper (1) zur Aufnahme einer Halbleiterplatte (10), die zwischen einer oberen (3) und einer unteren (5) Hälfte einer Haltereinrichtung (4) des Grundkörpers (1) angeordnet ist, dadurch gekennzeichnet, dass, die obere (3) und/oder untere (5) Hälfte der Halteeinrichtung (4) eine Wanne (12) mit einem Boden (11) aufweist, wobei der Boden (11) durch die Halbleiterplatte (10) ausbildbar ist, und dass die obere (3) und/oder die untere (5) Halteeinrichtung (4) zur Aufnahme der Halbleiterplatte (10) als Dünnschichtwellenleiter einen Aufnahmeraum (17; 130) aufweist, und dass die obere (3) und/oder untere (5) Hälfte der Halteeinrichtung (4) zum Eintritt eines Laserlichtstrahls (21) im MIR-Bereich eine Durchtrittsöffnung (6) aufweist, wobei die Halteeinrichtung (4) eine Präzisionsführung (360; 380) umfasst.
申请公布号 DE202016106024(U1) 申请公布日期 2016.11.08
申请号 DE201620106024U 申请日期 2016.10.26
申请人 Godejohann, Matthias 发明人
分类号 G01N21/01;G02B6/00 主分类号 G01N21/01
代理机构 代理人
主权项
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