发明名称 SYSTEM FOR THE TWO-DIMENSIONAL MEASUREMENT OF FLAT OBJECTS
摘要 <p>Vorrichtung bzw. Verfahren zur optischen Vermessung einer zweidimensionalen Kontur von dreidimensionalen Objekten. Die Vorrichtung umfasst wenigstens eine Bildaufnahmeeinrichtung, eine Auswerte- und Steuereinrichtung, eine Speichereinrichtung und eine Beleuchtungseinrichtung. Die Messung kann sowohl im Durchlichtverfahren als auch im Auflichtverfahren erfolgen. Eine Messung der der Bildeinrichtung zugewandten Kontur und der Projektionskontur sind möglich.</p>
申请公布号 WO1997001742(A1) 申请公布日期 1997.01.16
申请号 EP1996002774 申请日期 1996.06.25
申请人 发明人
分类号 主分类号
代理机构 代理人
主权项
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