| 主权项 |
1. 一种量测信号杂讯比的方法,包括下列步骤:提供频率为f@sso之一正弦波测试信号f(t);从t=0开始,以周期为T@sss的间隔,连续将该正弦波测试信号取样,以得出一取样信号f(nT@sss),其中n=0,1,2…;比较时间为nT@sss与(n-1)T@sss之该取样信号,并输出一测试资料Data(n),n=1,2…,其中Data(n)为:当f(nT@sss)>=f((n-1)T@sss)时,Data(n)=1,否则令Data(n)=0;将该测试资料Data(n)与一无杂讯测试资料CD(n)比较,并记录比较结果不相同之一数码n,其中CD(n)为:当0<nT@sss<=1/(4f@sso)时,CD(n)=1,当1/(4f@sso)<nT@sss<=3/(4f@sso)时,CD(n)=0,当3/(4f@sso)<nT@sss<=1/(f@sso)时,CD(n)=1;以及由该数码n得出一随机信号杂讯比,取该随机信号杂讯比之最小者即为所求之信号杂讯比。2. 如申请专利范围第1项所述之方法,其中由该数码n得出该随机信号杂讯比系依下式:3.如申请专利范围第2项所述之方法,其中由该数码n得出该随机信号杂讯比,可依公式先行建立一速见表,即时量测时,查表即可得该随机信号杂讯比。4. 一种量测信号杂讯比的装置,包括:一第一取样保持器,用以依据周期为T@sss之一第一时脉信号,将频率为f@sso之一正弦波测试信号f(t)取样,并输出一第一取样信号f(nT@sss),其中n=0,1,2…;一第二取样保持器,耦接至该第一取样保持器,用以依据周期同样为T@sss之一第二时脉信号,将该第一取样信号取样,并输出一第二取样信号g(nT@sss)=f((n-1)T@sss),其中n=1,2…,该第二时脉信号比该第一时脉信号快一第一短暂时间;一比较器,耦接至该第一取样保持器以及第二取样保持器,用以输出一测试资料Data(n),n=1,2…,其中Data(n)为:当f(nT@sss)>=g(nT@sss)时,Data(n)=1,否则Data(n)=0;一保持器,耦接至该比较器,用以依据周期同样为T@sss之一第三时脉信号,将该测试资料Data(n)维持一个周期,该第三时脉信号比该第一时脉信号延迟一第二短暂时间;一无杂讯测试资料产生器,用以产生一无杂讯测试资料CD(n),n=1,2…,其中CD(n)为:当0<nT@sss<=1/(4f@sso)时,CD(n)=1,当1/(4f@sso)<nT@sss<=3/(4f@sso)时,CD(n)=0,当3/(4f@sso)<nT@sss<=1/(f@sso)时,CD(n)=1;以及一互斥或记数器,耦接至该保持器以及无杂讯测试资料产生器,用以记录该测试资料Data(n)与该无杂讯测试资料CD(n)不相同之一数码n,并由该数码n来判断出目前之信号杂讯比。5. 如申请专利范围第4项所述之装置,其中该互斥或记数器,由该数码n得出一随机信号杂讯比,并取该随机信号杂讯比之最小者即为目前之信号杂讯比。6. 如申请专利范围第5项所述之装置,其中该互斥或记数器,由该数码n得出该随机信号杂讯比系依下式:7.如申请专利范围第6项所述之装置,其中该互斥或记数器,由该数码n得出该随机信号杂讯比,可依公式先行建立一速见表,即时量测时,查表即可得该随机信号杂讯比。8. 如申请专利范围第4项所述之装置,其中该第一短暂时间等于该第二短暂时间。9. 如申请专利范围第4项所述之装置,其中该正弦波测试信号的1/4周期为该第一时脉信号、第二时脉信号以及第三时脉信号之周期的整倍数。10. 如申请专利范围第4项所述之装置,其中该保持器系一D型正反器。图示简单说明:第1图是习知之量测信号杂讯比的方法之处理流程图。第2图是依照本发明一较佳实施例的一种量测信号杂讯比的方法之处理流程图。第3图是依照本发明一较佳实施例的一种量测信号杂讯比的装置之功能方块图。 |
