| 主权项 |
1.一种可检测介面卡之双面插接点之探针结构,主要包含:一机台,于机台上设有一测试主机板,在测试主机板上系设有复数个插槽,供至少一正常之介面卡插设;一测试治具,其系置设在机台上,且藉由导线与正常之介面卡连接在一起,俾将待检测之介面卡放置在测试治具上,该测试治具上具有对应于待检测通讯介面卡之开机唯读记忆体插槽(BOOT ROM)接点、通讯接头接点以及扩充滙流排接头接点之复数个探针,该测试治具并连接有导线至正常之通讯介面卡;一驱动机构,其系固设在位于测试治具上方之一第一平台上,该驱动机构具有一可伸缩之驱动杆,并枢设在一第二平台上,俾藉由驱动杆之下降使第二平台向下抵靠在待检测介面卡上,使待检测介面卡固定于测试治具上,其特征系在:该对应于待检测介面卡之双面扩充滙流排接头插接点之上、下位置处设有两道复数根探针组,其中下方位置处之两道探针组系与一电路板相导接,该电路板并插设于测试主机板之插槽中,即可藉由该上、下两道探针组检测具有双面扩充滙流排接头插接点之介面卡。2.如申请专利范围第1项所述之可检测介面卡之双面插接点之探针结构,该测试治具包括有一测试电路基板,测试电路基板上具有一测试唯读记忆体(QC ROM),该测试唯读记忆体之位置系对应于待检测网路介面卡之开机唯读记忆体(BOOT ROM)插槽接点,并在测试唯读记忆体之各接脚上焊设有复数根探针。3.如申请专利范围第1项所述之可检测介面卡之双面插接点之探针结构,该测试治具包有一测试电路基板,测试电路基板上具有一通讯接头之同轴电缆接头(BNC接头)及双绞线电缆接头(RJ-45接头),两接头一端系分别连接有电缆导线至正常通讯介面卡,而两接头之另一端则连接有连接线,并在连接线之另一端分别接设有探针,其位置亦分别对应于待检测介面卡之同轴电缆接头及双绞线电缆接头之接点。4.如申请专利范围第1项所述之可检测介面卡之双面插接点之探针结构,该测试治具包括有一测试电路基板,测试电路基板上具有两道由复数个探针所组成之下排探针,而第二平台在对应于下排探针之位置处则设有二相连接之复数根上排探针。5.如申请专利范围第4项所述之可检测介面卡之双面插接点之探针结构,其中,第一道下排探针与第一道上排探针系对应于待检测介面卡之扩充滙流排接头位置处,而第二道下排探针与第二道上排探针则系相互接触在一起,俾形成一导通回路。6.如申请专利范围第1项所述之可检测介面卡之双面插接点之探针结构,该驱动机构可为一气压缸,该气压缸系藉由一驱动开关控制作动,而气压缸之伸缩杆并向下凸伸出于第一平台外,并与一第二平台固设在一起,俾藉由伸缩杆之伸缩,使第二平台可作昇降之动作。7.如申请专利范围第1项所述之可检测介面卡之双面插接点之探针结构,该机台上设有一微动开关,该微动开关系与一电源供应器相连接,当第二平台受到驱动机构之作动而下降时,会先均匀抵靠在待检测通讯介面卡上,再抵压到微动开关,而令电源供压器之电源开启。8.如申请专利范围第1项所述之可检测介面卡之双面插接点之探针结构,,该对应于测试治具上方之第二平台上设有复数个开孔,于开孔中套设有数个压杆,该压杆之枢设位置须对应于待检测通讯介面卡上未设有电子元件之位置处,俾藉由该等压杆使第二平台向下压抵在待检测通讯介面卡上之力量能平均。图示简单说明:第一图系本创作之测试装置之整体结构示意图。第二图系本创作之平面示意图。第三图系本创作之网路介面卡示意图。第四图系本创作之测试治具结构示意图。第五图系本创作之第三组探针结构示意图。第六图系本创作之作动情形示意图。 |
