发明名称 |
一种扇出型晶圆级封装方法及封装件 |
摘要 |
本发明提供一种扇出型晶圆级封装方法及封装件,该封装方法提供一载体;在所述载体正面开设沟槽;提供具有接触焊盘的裸芯片,将所述裸芯片正面朝下放入所述沟槽中;在裸芯片背面形成覆盖所述裸芯片的成型复合物;研磨所述载体的背面,使所述裸芯片的正面露出;形成再布线层,使所述再布线层与所述裸芯片的接触焊盘电连接;安装金属凸块,使所述金属凸块通过所述再布线层与所述裸芯片的接触焊盘电连接。本发明利用沟槽的卡位作用固定裸芯片,避免或减少了封装过程中裸芯片的位移,使封装件可以具有更窄的器件焊盘间隙和更高的输入输出数;并且可以提高产品良率和产量,减小再布线层的线宽和线距,缩小封装尺寸,降低成本。 |
申请公布号 |
CN106098630A |
申请公布日期 |
2016.11.09 |
申请号 |
CN201610648702.X |
申请日期 |
2016.08.09 |
申请人 |
中芯长电半导体(江阴)有限公司 |
发明人 |
蔡奇风;林正忠 |
分类号 |
H01L21/98(2006.01)I;H01L25/065(2006.01)I;H01L23/31(2006.01)I |
主分类号 |
H01L21/98(2006.01)I |
代理机构 |
上海光华专利事务所 31219 |
代理人 |
余明伟 |
主权项 |
一种扇出型晶圆级封装方法,其特征在于,包括以下步骤:提供一载体;在所述载体正面开设沟槽;提供具有接触焊盘的裸芯片,将所述裸芯片正面朝下放入所述沟槽中;在裸芯片背面形成覆盖所述裸芯片的成型复合物;研磨所述载体的背面,使所述裸芯片的正面露出;形成再布线层,使所述再布线层与所述裸芯片的接触焊盘电连接;安装金属凸块,使所述金属凸块通过所述再布线层与所述裸芯片的接触焊盘电连接。 |
地址 |
214437 江苏省无锡市江阴市长山大道78号 |