发明名称 IC插座之接脚
摘要 提供一种IC插座之接脚形状,使用于IC测试器之设备介面部可以成本低廉且小型之高密度连接。因此,在IC插座1之接脚2的加工形状中,插入于IC测试器之设备介面部的销接插4并进行电气连接在接脚2至少设有1个之弯曲部3,做为强化弹性之形状。又在上述接脚2设置微缝7,或设置漏斗状圆形之弹簧8,或在上述该接脚2设置多数个不同方向之弯曲部9,用以构成IC插座之接脚。
申请公布号 TW346692 申请公布日期 1998.12.01
申请号 TW085106439 申请日期 1996.05.30
申请人 前进测试股份有限公司 发明人 松村茂
分类号 H01R33/74 主分类号 H01R33/74
代理机构 代理人 康伟言 台北巿南京东路三段二四八号七楼;恽轶群 台北巿松山区南京东路三段二四八号七楼
主权项 1.一种IC插座之接脚,在IC插座(1)之接脚(2)的加工形状中,其特征在于:插入于销接插(4)用以构成IC测试器之设备介面部并进行电气连接,而在接脚(2)至少设有1个之弯曲部(3)者。2.如申请专利范围第1项之IC插座之接脚,插入于销接插(4)并进行电气连接,而在接脚(2)设有微缝(7)者。3.如申请专利范围第1项之IC插座之接脚,插入于销接插(4)并进行电气连接,而在接脚(2)设有漏斗状圆形之弹簧者。4.如申请专利范围第1项之IC插座之接脚,插入于销接插(4)并进行电气连接,而在接脚(2)设有多数个不同方向之弯曲部(9)者。图式简单说明:第一图系显示根据本发明实施例IC插座之接脚形状及设备介面部构造概念之剖面图;第二图系显示本发明第二实施例IC插座之接脚形状的概念图;第三图系显示本发明第三实施例IC插座之接脚形状的概念图;第四图系显示本发明第四实施例IC插座之接脚形状的概念图;第五图系显示根据先前技术IC插座之接脚形状及设备介面部构造概念之剖面图;第六图系显示根据先前技术其他实施例IC插座之接脚形状及设备介面部构造概念之剖面图。
地址 日本