发明名称 | 制造半导体器件的方法 | ||
摘要 | 一种腐蚀设备,具有一个处理前的衬底保持室、一个衬底传递室、一个处理后的衬底保持室,以及一个腐蚀室。在腐蚀室中,使用氟化卤素气体如ClF<SUB>3</SUB>气体的腐蚀,例如对薄膜晶体管的有源层的腐蚀,是在不使氟化卤素气体离化或等离子增强的情况下进行的。由于不发生等离子损伤,因而防止了在有源层侧表面中陷阱能级的出现,于是抑制了载流子通过陷阱能级的运动,因而使薄膜晶体管中的截止电流值减小。 | ||
申请公布号 | CN1248787A | 申请公布日期 | 2000.03.29 |
申请号 | CN99117536.0 | 申请日期 | 1995.11.25 |
申请人 | 株式会社半导体能源研究所 | 发明人 | 山崎舜平;须泽英臣 |
分类号 | H01L21/00 | 主分类号 | H01L21/00 |
代理机构 | 中国专利代理(香港)有限公司 | 代理人 | 张志醒 |
主权项 | 1.一种制造半导体器件的方法,包括以下步骤: 在衬底上形成半导体膜; 向所述半导体膜中加入含金属材料,以促进所述半导体膜晶化; 使含有所述金属沿平行于衬底方向通过半导体膜扩散的部分的 所述半导体膜晶化;以及 在该晶化半导体膜内形成所述半导体器件的有源层。 | ||
地址 | 日本神奈川县 |