发明名称 制造半导体器件的方法
摘要 一种腐蚀设备,具有一个处理前的衬底保持室、一个衬底传递室、一个处理后的衬底保持室,以及一个腐蚀室。在腐蚀室中,使用氟化卤素气体如ClF<SUB>3</SUB>气体的腐蚀,例如对薄膜晶体管的有源层的腐蚀,是在不使氟化卤素气体离化或等离子增强的情况下进行的。由于不发生等离子损伤,因而防止了在有源层侧表面中陷阱能级的出现,于是抑制了载流子通过陷阱能级的运动,因而使薄膜晶体管中的截止电流值减小。
申请公布号 CN1248787A 申请公布日期 2000.03.29
申请号 CN99117536.0 申请日期 1995.11.25
申请人 株式会社半导体能源研究所 发明人 山崎舜平;须泽英臣
分类号 H01L21/00 主分类号 H01L21/00
代理机构 中国专利代理(香港)有限公司 代理人 张志醒
主权项 1.一种制造半导体器件的方法,包括以下步骤: 在衬底上形成半导体膜; 向所述半导体膜中加入含金属材料,以促进所述半导体膜晶化; 使含有所述金属沿平行于衬底方向通过半导体膜扩散的部分的 所述半导体膜晶化;以及 在该晶化半导体膜内形成所述半导体器件的有源层。
地址 日本神奈川县