| 主权项 |
1.一种显示器之频率及相位自动侦测的方法,包括下列步骤:a、产生复数组具有取样频率和相位彼此不同的取样时脉组;b、分别以该取样时脉组序列,于一图素时脉中撷取复数个彼此间具有一相位差的取样点;c、计算各取样时脉组之该取样点之相邻两点间所形成的一差値;d、储存该差値;以及e、输出该差値为最小的取样时脉组。2.如申请专利范围第1项所述显示器之频率及相位自动侦测的方法,其中该取样时脉组系由一时脉产生器所产生。3.如申请专利范围第1项所述显示器之频率及相位自动侦测的方法,其中该差値的计算系由上差値计算单元来处理。4.如申请专利范围第3项所述显示器之频率及相位自动侦测的方法,其中该差値计算单元系为一计数器,用以计算产生该差値之该取样点的数目。5.如申请专利范围第3项所述显示器之频率及相位自动侦测的方法,其中该差値计算单元系为一累加器,用以计算该差値的总和。6.如申请专利范围第3项所述显示器之频率及相位自动侦测的方法,其中该差値计算单元包含:一计数器,用以计算产生该差値的该取样点;以及一累加器,用以计算该差値的总和。7.一种显示器之频率及相位自动侦测的方法,包括下列步骤:a、产生一参考时脉组;b、产生一取样时脉组;c、依据该参考时脉组,于一图素时脉中撷取复数个取样点;d、依据该取样时脉组,于一图素时脉中撷取复数个取样点;e、分别计算该参考时脉组及该取样时脉组的取样点之相邻两点间所形成之一差値;f、比较该参考时脉组与该取样时脉组之差値,若该参考时组脉之差値小于该取样时脉组的差値,至步骤h,否则至g;g、将该取样时脉组取代该参考时脉组;h、判断该参考时脉组的差値是否落于一容许范围内,如果是执行步骤j,否则至步骤i;以及i、修正该取样时脉组,回至步骤d;j、输出该参考时脉组。8.如申请专利范围第7项所述显示器之频率及相位自动侦测的方法,其中该参考时脉系由一时脉产生器所产生。9.如申请专利范围第7项所述显示器之频率及相位自动侦测的方法,其中该参考时脉的频率及相位为一经验値。10.如申请专利范围第7项所述显示器之频率及相位自动侦测的方法,其中该取样时脉系由一时脉产生器所产生。11.如申请专利范围第7项所述显示器之频率及相位自动侦测的方法,其中该差値的计算系由一差値计算单元来处理。12.如申请专利范围第11项所述显示器之频率及相位自动侦测的方法,其中该差値计算单元系为一计数器,用以计算产生该差値的该取样点。13.如申请专利范围第11项所述显示器之频率及相位自动侦测的方法,其中该差値计算单元系为一累加器,用以计算该差値的总和。14.如申请专利范围第11项所述显示器之频率及相位自动侦测的方法,其中该差値计算单元包含:一计数器,用以计算产生该差値的该取样点;以及一累加器,用以计算该差値的总和。15.如申请专利范围第7项所述显示器之频率及相位自动侦测的方法,其中该修正取样时脉的方式系为调整取样时脉的频率。16.如申请专利范围第15项所述显示器之频率及相位自动侦测的方法,其中该调整取样时脉频率的方式系为递增或递减频率的方式。17.如申请专利范围第7项所述显示器之频率及相位自动侦测的方法,其中该修正取样时脉的方式系为调整取样时脉的相位。18.如申请专利范围第17项所述显示器之频率及相位自动侦测的方法,其中该调整取样时脉相位的方式系为递增或递减相位的方式。19.如申请专利范围第7项所述显示器之频率及相位自动侦测的方法,其中该容许范围系以〝0〞为误差的基准,取其正负値所设定的。20.一种显示器之频率及相位自动侦测的装置,包括:一时脉产生单元,用以产生一取样时脉组;一取样单元,系以该取样时脉组于一图素时脉中产生复数个取样点;一差値计算单元,用以计算与储存该相邻两点取样点之间所形成之一差値;以及一取样频率及相位判定单元,用以找出该显示器的频率及相位。21.如申请专利范围第20项所述显示器之频率及相位自动侦测的装置,其中该时脉产生单元系藉由一乱数产生器设定该时脉产生单元产生该取样时脉组的周期。22.如申请专利范围第21项所述显示器之频率及相位自动侦测的装置,其中该乱数产生器系为一三位元之位元反转计数器。23.如申请专利范围第20项所述显示器之频率及相位自动侦测的装置,其中该取样单元系为一序列架构的取样器。24.如申请专利范围第20项所述显示器之频率及相位自动侦测的装置,其中该取样单元系为平行架构的取样器。25.如申请专利范围第20项所述显示器之频率及相位自动侦测的装置,其中该差値计算单元包含:一变动量测器,用以计算出该差値;一差値遮罩器,用以排除该差値中被压抑的杂讯因子;以及一差値累计器,用以将自该差値遮罩器输出之该差値作一累计。26.如申请专利范围第25项所述显示器之频率及相位自动侦测的装置,其中该差値累计器系为一计数器,用以计算产生该差値的该取样点。27.如申请专利范围第25项所述显示器之频率及相位自动侦测的装置,其中该差値累计器系为一累加器,用以计算该差値的总和。28.如申请专利范围第20项所述显示器之频率及相位自动侦测的装置,其中该差値计算单元包含:一变动量测器,用以计算出该差値;以及一差値累计器,用以将自该变动量测器输出之该差値作一累计。29.如申请专利范围第28项所述显示器之频率及相位自动侦测的装置,其中该差値累计器系为一计数器,用以计算产生该差値的该取样点。30.如申请专利范围第28项所述显示器之频率及相位自动侦测的装置,其中该差値累计器系为一累加器,用以计算该差値的总和。31.如申请专利范围第20项所述显示器之频率及相位自动侦测的装置,其中该显示器的显示频率和相位系为该差値最小之取样时脉组的频率和相位。图式简单说明:第一图,为取样时脉频率超前及落后的示意图。第二图,为取样时脉相位超前及落后的示意图。第三图,为本发明之装置第一实施例的方块示意图。第四图,为本发明之多次取样的时脉示意图。第五图,为本发明之序列架构取样单元的方块示意图。第六图,为本发明之平行架构取样单元的方块示意图。第七图,为本发明以两次取样来作为相位侦测的示意图。第八图,为本发明以两次取样来作为频率侦测的示意图。第九图之一,为第七图中取样相位太快时所形成之差値的示意图。第九图之二,为第七图中较佳之取样相位所形成之差値的示意图。第十图,为本发明显示器之频率及相位自动侦测的方法方法第一实施例的流程示意图。第十一图,为本发明显示器之频率及相位自动侦测的方法方法第二实施例的流程示意图。第十二图,为本发明之装置第二实施例的方块示意图。第十三图,为本发明之跳跃取样方法实施例的示意图。 |
