| 主权项 |
1.一种二极体晶片之检测装置,其系包括:一机台;以及一检测机构;该检测机构包含有:一转盘,其系枢设在机台上;若干吸嘴,其系设置在转盘周边且沿转盘周缘排列,该等吸嘴可与空压机相连接,且该等吸嘴未与空压机相连接之一端接设有一与其相连通且孔径较吸嘴小之吸嘴头,该吸嘴头之自由端并设有向内缩合呈圆锥状之吸嘴口,且该吸嘴头与吸嘴相接处设有向外延伸之凸缘,且该喷嘴上设有由吸嘴口中心位置两端分别沿吸嘴头轴向方向经凸缘表面,而延伸至吸嘴与凸缘相邻处相连接之槽缝,该槽缝中填满不导电元件,俾使吸嘴头经凸缘表面,而延伸至套筒与凸缘相邻处之两侧,可藉由不导电元件之分隔,而形成两个独立且互不导通之区域;若干检测平台,其系固定在机台上且排列在转盘周边上,该等检测平台一端在邻近转盘之端边设有一较为低下之阶台,该阶台在适当位置上设有两个电源接脚,该等电源接脚分别与控制装置上之电源之正负两极相接,且该检测平台在邻近阶台处设有探针,该等探针分别与控制装置上之测试回路以并联方式连接在一起;藉上述构件之组合,俾检测时,可藉由转盘之转动,将吸附有待测二极体晶片之吸嘴移至与检测平台之相对位置上,以使在吸嘴口上之二极体晶片分别与平台上之不同电极之电源接脚触接,并使吸嘴两侧分别与平台上不同之探针接触,如此,不但可在同一时间中对二极体晶片进行二点检测之工作,以节省检测之时间,且可使测试回路上之探针与电源回路分别由不同接点进入二极体晶片中,而不致在量测时,产生接触电阻,进而能量测出该二极体晶片正确之顺向电压,而能事先将不良之二极体晶片加以淘汰,以节省成本。2.如申请专利范围第1项所述之二极体晶片之检测装置,其机台上设有输送机构,该输送机构上设有震动式送料机,该震动式送料机一端接设有输送槽道,该输送槽道另一端延伸至在转盘下之定位平台,俾使用时,可将待测试之二极体晶片放置在输送机构之震动式送料机上,藉由在震动式送料机一端之输送槽道,依序将二极体晶片送至定位平台上。3.如申请专利范围第1项所述之二极体晶片之检测装置,其检测装置上设有一个以上沿转盘周缘排列之槽道,该等槽道在伸入转盘之一端各设有收集孔,另一端则藉由连接管分别与配合之收集空间相连接,俾可藉由转盘之移动,将被吸附在喷嘴上且经测试过之二极体晶片,根据测试结果移送至与之配合之槽道之收集孔相对位置上,使其恰可掉落在收集孔中,而由槽道经连接管输送至该槽道到连接之收集空间中,令操作者不需再以人工方式拣选分类,即能将被淘汰之二极体晶片,以及合格之二极体晶片依预先设定,分别集中在不同之收集空间中。4.如申请专利范围第1项所述之二极体晶片之检测装置,其不导电元件可为橡胶。 |
