发明名称 零件定位馈送设备
摘要 一种零件定位馈送设备(l),包含第一及第二输送器(3,4)串置于一零件馈径,一零件定位侦测器(6,16)当零件传送至第二输送器时侦测零件(P)之方位,一控制单元(14)回应来自零件定位侦测器之侦测讯号判定是否任一电件(P,P^1)具不良方位,及一零件除去构件(7)位于馈径上第二输送器之上游端,根据控制单元判定结果除去不良方位之零件(P′),二以上零件侦测器(8a-8d,ll)成列沿零件馈径置于零件除去构件(7)之下游侧以侦测有无任何零件(P)。同样地,二以上零件馈径开闭停止件(9a-9d)分别置于零件侦测器下游侧而与之相邻,以根据零件侦测器之侦测结果连续开闭零件馈径之对应部。
申请公布号 TW421198 申请公布日期 2001.02.01
申请号 TW088220503 申请日期 1996.12.14
申请人 华可贵股份有限公司 发明人 舟屋和弘
分类号 B65G47/256 主分类号 B65G47/256
代理机构 代理人 林志刚 台北巿南京东路二段一二五号七楼
主权项 1.一种零件定位馈送设备,用以承接多数零件(P,P′),零件包含连续由上一处理站馈送之不良方位之零件(P′),并仅馈送所欲方位之零件(P)至下一处理站,即于测出不良方位之零件(P′)并予以除去后,特征为:具备一第一输送器机构(3)及一第二轮送器机构(4),排列置于一零件馈径上;零件定位侦测器机构(6,16),随零件由第一输送器机构(3)送至第二输送器机构(4)时侦测各零件(P,P′)之方位;一控制单元(14),包含一区别电路以判定任一令件(P,P′)为不良方位者,即当由零件定位侦测器机构(6,16)接收一零件定位讯号时;零件除去构件(7),置于零件馈径上于第二输送器机构(4)之上游端,并回应来自控制单元(14)之命令而操作除去不良方位之零件(P′);多数零件侦测器机构(8a-8d,11),成列沿零件馈径置于零件除去构件(7)下游侧上,各用以侦测任何零件(P)之出现并送出一侦测讯号至控制单元(14),及多数零件馈径开闭机构(9a-9d),分别置于零件侦测器机构(8a-8d)下游侧而相邻,当其收到来自控制单元(14)根据零件侦测器机构(8a-8d,11)之侦测结果而得之讯号时,连续开闭零件馈径之对应部。2.如申请专利范围第1项之零件定位馈送设备,其中零件定位侦测器机构包含一电视摄影机(6)。3.如申请专利范围第1项之零件定位馈送设备,其中零件定位侦测器机构包含一雷射发光装置(16)。4.如申请专利范围第1项之零件定位馈送设备,其中零件定位侦测器机构包含组合使用之电视摄影机(6)及雷射发光装置(16)。图式简单说明:第一图示意立体图显示本创作一实施例中用于馈送拉链拉片之零件定位进给设备之要部分之一般结构;第二图纵向截面图说明沿拉片定位进给设备之第二输送带串置之多阶开闭停止件之操作。第三图部分平面图显示置于第二输送带一侧上用以除去不良方位之零件机构之操作;第四图显示控制开闭停止件操作之一连串操作流程;第五图前例所示拉片定位侦测器机构变化例之部分平面图;第六图(a)(b)为常具所欲方位之拉片移动横越发自变化之拉片定位侦测器机构之雷射光所见之电压改变;第七图(a)(b)为当具不良方位之拉片横越雷射光所见电压改变;第八图(a)(b)为当另一具不良方位之拉片横越雷射光所见电压改变;及第九图示意立体图为本创作另一实施例中一拉片定位进给设备之主要部分之一般结构。
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