发明名称 半导体雷射装置
摘要 光导引层系各别地被形成于主动层的二面,该光导引层具有较主动层为宽的能带间隙,一n型覆盖层与一p型覆盖层系各别地被形成以将主动层与光导引层夹置于其中,该覆盖层具有较光导引层为宽能带闲隙,而载体阻隔层系各别地形成于主动层与光导引层之间,该载体阻隔层具有较主动层与光导引层为宽的能带间隙。p型覆盖层的折射系数条较n型覆盖层为低。内损耗将藉由该结构而被限制于低水平,因为自由载体吸收将被减少,且半导体雷射装置的电阻与热阻值将被减少,其结果是该雷射装置的效率与输出功率将被增加。
申请公布号 TW472420 申请公布日期 2002.01.11
申请号 TW087119375 申请日期 1998.11.23
申请人 三井化学股份有限公司 发明人 内藤由美;大枝靖雄;藤本毅
分类号 H01S3/025 主分类号 H01S3/025
代理机构 代理人 何金涂 台北巿大安区敦化南路二段七十七号八楼
主权项 1.一种半导体雷射装置,其具有复数依序形成层,其包括:一第一层覆盖层,一第一层光导引层,一第一层载体阻隔层,一主动层,一第二层载体阻隔层,一第二层光导引层,一第二层覆盖层,第一与第二光导引层之能带间隙系较主动层为宽,第一与第二覆盖层之能带间隙系较第一与第二光导引层为宽,第一与第二载体阻隔层之能带间隙系较第一与第二光导引层为宽,第一与第二覆盖层之一为p型,而另一个为n型,其中p型覆盖层的折射系数系较n型覆盖层为低。2.如申请专利范围第1项之半导体雷射装置,其中p型覆盖层的厚度系小于n型覆盖层。图式简单说明:第一图系为图示本发明之实施例的图;第二图系为图示本实施例与参考范例之波导引模式的图;第三图系为图示本实施例与参考范例之电阻値的图;第四图系为图示本实施例与参考范例之热阻値的图;
地址 日本