发明名称 整合于测试仪器上之受控微量调整装置
摘要 本案系为一种受控微量调整装置,整合于一测试仪器上,该测试仪器包含有一压板,该压板系可进行升降动作来顶抵其下方之一待测电路板以进行测试,该受控微量旋转装置包含:一固定座,用以固定于该压板上;一电动机,固设于该固定座上并电连接于该测试仪器,其系因应该测试仪器之控制而进行转动;以及一接触器,连接于该电动机,其系于该压板下降时接触至该待测电路板上之一可变数值电子元件,并因应该电动机之转动而旋转,进而改变该可变数值电子元件之特性数值。
申请公布号 TW472887 申请公布日期 2002.01.11
申请号 TW089210094 申请日期 2000.06.13
申请人 德律科技股份有限公司 发明人 曹诣
分类号 G01R31/00 主分类号 G01R31/00
代理机构 代理人 蔡清福 台北巿忠孝东路一段一七六号九楼
主权项 1.一种受控微量调整装置,整合于一测试仪器上,该测试仪器包含有一压板,该压板系可进行升降动作来顶抵其下方之一待测电路板以进行测试,该受控微量旋转装置包含:一固定座,用以固定于该压板上;一电动机,固设于该固定座上并电连接于该测试仪器,其系因应该测试仪器之控制而进行转动;以及一接触器,连接于该电动机,其系于该压板下降时接触至该待测电路板上之一可变数値电子元件,并因应该电动机之转动而旋转,进而改变该可变数値电子元件之特性数値。2.如申请专利范围第1项所述之受控微量调整装置,其中该电动机包含:一直流马达(DC Motor),电连接于该测试仪器,其系因应该测试仪器之控制而进行转动;以及一减速机,直结于该直流马达,其输出转速与该直流马达之转速呈一1:N之比例。3.如申请专利范围第2项所述之受控微量调整装置,其中该接触器包含:一可伸缩螺丝起子,其内具有一伸缩机构而能改变其长度,以利于该压板下降时接触至该可变数値电子元件上所具之孔洞;以及一传动齿轮组,连接于该减速机与该弹性螺丝起子,用以因应该减速机之转动而带动该弹性螺丝起子进行转动,进而能改变该可变数値电子元件之特性数値。4.如申请专利范围第2项所述之受控微量调整装置,其中该接触器包含:一螺丝起子,直结于该减速机,其系于该压板下降时接触至该可变数値电子元件上所具之孔洞,并因应该减速机之转动而进行转动,进而能改变该可变数値电子元件之特性数値;以及一可挠棒,连接于该减速机与该螺丝起子之间,用以使该螺丝起子具有误差容忍度。5.如申请专利范围第4项所述之受控微量调整装置,其中该固定座具有一伸缩机构进行而能改变其高度。6.如申请专利范围第1项所述之受控微量调整装置,其中该待测电路板上之可变数値电子元件系为一可变电阻。7.如申请专利范围第1项所述之受控微量调整装置,其中该接触器之尖端系以绝缘材质所完成。图式简单说明:第一图:其系为用以执行电路功能测试之在线测试仪器(In-Circuit Tester,ICT)外观示意图。第二图(a):其系本案第一较佳实施例之构造示意图。第二图(b)、(c):其系本案第一较佳实施例中电动机与接触器之构造分解示意图。第三图:其系本案第二较佳实施例中之构造示意图。
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