| 摘要 |
<p>본 발명은 병렬 테스트회로를 갖는 메모리장치에 관한 것으로서, 메모리장치가 고용량화되어 감에 따라 용량에 비례하여 테스트시간이 길어지는 문제점을 해결하기 위해 테스트시 직렬로 쓰기/읽기를 수행하던 방식을 메모리장치내부에 병렬쓰기회로(30), 병렬데이터 비교회로(40), 테스트모드 제어부(20)를 내장하여 병렬테스트 선택신호(TMS)에 따라 병렬로 쓰기/읽기를 수행하여 병렬로 테스트함으로써 테스트시간을 줄일 수 있는 이점이 있다.</p> |
