发明名称 OPTION TEST CIRCUIT
摘要 <p>본 발명은 옵션 테스트회로에 관한 것으로, 종래에는 각각의 옵션들에 대하여 각기 2가지 경우를 테스트하기 위해서는 각 옵션당 2개의 마스크를 사용하여야 하므로 비용이 상승하는 문제점이 있었다. 따라서, 본 발명은 N비트의 테스트제어신호를 기저장하는 옵션레지스터와; 옵션수에 따라, 상기 N비트의 테스트제어신호를 디코딩하는 디코더와; 마스크옵션의 선택에 따라, 각기 테스트신호를 출력하는 다수의 마스크옵션테스트부와; 마스크옵션의 선택에 따라, 각기 테스트신호를 출력하는 다수의 마스크옵션테스트부와; 익스쿨루씨브오아게이트로 이루어져, 상기 다수의 마스크옵션테스트부로부터 각기 테스트신호를 입력받아 이를 상기 디코더에서 출력되는 해당 테스트제어신호와 논리 연산하는 다수의 연산부로 구성함으로써 각각의 옵션에 대하여 각기 다른 마스크를 사용하지 않고도 모든 경우의 옵션에 대한 테스트를 수행함으로써 마스크의 수를 줄여 비용을 절감할 수 있는 효과가 있고, 또한 옵션의 수가 많을수록 더욱 비용절감의 효과가 있다.</p>
申请公布号 KR100336749(B1) 申请公布日期 2002.05.13
申请号 KR19990027758 申请日期 1999.07.09
申请人 null, null 发明人 정홍석
分类号 G01R31/317 主分类号 G01R31/317
代理机构 代理人
主权项
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