| 主权项 |
1.一种「被动元件晶片抽验测试机」,系在检测扫瞄主机之后上方设有一可受控上下升降之测针基架,以及位于其上方与上述检测扫瞄主机间之纵座,该纵座可受控前后移动,并由其表面组合一横座,该横座预设可调整之被动元件晶片夹定装置;该夹定装置至少包括可定位被动元件晶片两相邻边之定位柱,以及两设于横座之内座及其相关夹座中,且由一局部外露控制杆所操控之纵横两个别弹性活动柱。2.如申请专利范围第1项所述「被动元件晶片抽验测试机」,其中,该测针基架设有可进行微调之分厘卡尺及其相对弹簧,以及前后排分开之测针,并于一外侧预设原点及上下限光电装置。3.如申请专利范围第1项所述「被动元件晶片抽验测试机」,其中,该纵座设有一位于预设框体中之可调整内座,而纵座底面与一基座中央导轨之滑座结合连动。4.如申请专利范围第3项所述「被动元件晶片抽验测试机」,其中,该纵座以预设侧凸耳接合驱动机构,而受控与其横座产生位移。5.如申请专利范围第3或4项所述「被动元件晶片抽验测试机」,其中,该检测扫瞄主机表面于纵座旁预设相关原点及前后限光电装置。6.如申请专利范围第1.2.3或4项所述「被动元件晶片抽验测试机」,其中,该横座之两侧边预设内槽轨,供活动组接一可调整内座及其表面夹座,并在夹座两相邻边附近设置定位柱,及于该内座及夹座设置活动柱及其可调整夹定装置。7.如申请专利范围第6项所述「被动元件晶片抽验测试机」,其中,该等活动柱包括由夹座预设导槽露出之一纵向及一横向活动柱,该等活动柱分别设于内座预设垂直相对长槽孔之滑块上,该等滑块分别接合连动于个别连杆,此等连杆于设定位置连接弹性元件,并与上述控制杆枢接连动。图式简单说明:第1图系本创作较佳实施例立体图;第2图系第1图基座、纵座及横座之主要元件分解图;第3图系第1图检测扫瞄主机以上部位之侧视及局部构件剖视图;第4图系第3图之下半段部份俯视图;第5图系第1.2图横座俯视图;第6图系第5图夹定被动元件晶片图;第7图系本创作横座之主体结构分解图;第8图显示横座之内座底部相关结构图;第9图显示第8图控制杆已拉动状态;第10图系如第3图之侧视图,显示测针基架已受控下降,纵座并受控到达定点;第11图显示第10图之接续动作,其测针基架已上升,纵座移动,准备下一排检测;以及第12图显示测针基架已检测后方部位。 |
