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发明名称
金属电镀及种子层之厚度与轮廓之量测
摘要
金属电镀阻障层及种子层厚度及轮廓之测量方法及系统。利用光学度量衡学,可将后阻障层沉积格板及后种子层沉积格板非破坏性地测定。接下来,由基板镶嵌格板的轮廓减去后阻障层沉积格板的轮廓可决定阻障层之厚度及轮廓。类似地,由后阻障层沉积格板的轮廓减去后种子层沉积格板的轮廓可决定种子层之厚度及轮廓。
申请公布号
TW200301347
申请公布日期
2003.07.01
申请号
TW091136232
申请日期
2002.12.13
申请人
迪伯技术股份有限公司
发明人
劳伦斯 连恩;尼可 杰克达;牛辛惠
分类号
G01B11/00
主分类号
G01B11/00
代理机构
代理人
周良谋
主权项
地址
美国
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