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发明名称
改善积体多孔质层间电介体之牺牲层嵌入方法
摘要
于嵌入制程中使用非多孔质牺牲层(30)以形成譬如通孔或互连线之导电体元件(34),造成嵌入通孔或互连线之平滑的壁结构,和造成譬如障壁层之任何周遭层之平滑的壁结构。形成平滑壁导电体元件之后,移除牺牲层(30)并代之以多孔质电介质(40),获得所需要之与平滑壁导电体元件和障壁材料积体制造之多孔质低k电介质结构。
申请公布号
TW200301542
申请公布日期
2003.07.01
申请号
TW091136066
申请日期
2002.12.13
申请人
高级微装置公司
发明人
尔肯 亚当;达瑞尔 M 尔伯
分类号
H01L21/76
主分类号
H01L21/76
代理机构
代理人
洪武雄;陈昭诚
主权项
地址
美国
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