发明名称 |
Method for forming fine patterns of semiconductor device |
摘要 |
본 발명의 일 실시예에 따른 반도체 소자의 미세 패턴 형성 방법은, 피식각층 상의 하드 마스크막을 패터닝하여, 상기 피식각층을 노출시키는 제 1 개구들 및 상기 제 1 개구들 사이의 희생 필라들을 형성하는 것, 상기 제 1 개구들 사이의 상기 피식각층 위로 블록 공중합체층을 형성하는 것, 상기 블록 공중합체층을 상분리하여, 상기 희생 필라들과 이격되어 배열되고 제 1 블록 패턴들 및 제 2 블록 패턴을 형성하는 것, 상기 제 1 블록 패턴들을 제거하여 상기 피식각층에 제 1 홀들을 형성하는 것, 그리고 상기 희생 필라들을 제거하여 노출된 상기 피식각층에 상기 제 1 홀들과 상이한 제 2 홀들을 형성하는 것을 포함한다. |
申请公布号 |
KR20160124348(A) |
申请公布日期 |
2016.10.27 |
申请号 |
KR20150054295 |
申请日期 |
2015.04.17 |
申请人 |
SAMSUNG ELECTRONICS CO., LTD. |
发明人 |
KIM, JAE HEE;KANG, DAE YONG;HA, SOON MOK;PARK, JOON SOO |
分类号 |
H01L21/027;H01L21/033 |
主分类号 |
H01L21/027 |
代理机构 |
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代理人 |
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主权项 |
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地址 |
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