发明名称 顶闸型薄膜电晶体
摘要 本发明之目的系在提升多结晶SiTFT之特性。本发明系一种将闸极电极形成于主动层之上层的顶闸型TFT,覆盖TFT主动层24以及闸极绝缘膜30、闸极电极36而形成之层间绝缘膜40,系采用由主动层侧叠层SiNx膜42、SiO2膜44的叠层构造,SiNx膜42的厚度,系设定为50nm至200nm的程度,或理想之100nm程度,藉由设定为上述厚度,可对下层之多结晶Si主动层24供给充足的终止悬空键用之氢,并维持形成于该层间绝缘膜40之接触孔等之形成精度。
申请公布号 TW200304227 申请公布日期 2003.09.16
申请号 TW092103614 申请日期 2003.02.21
申请人 三洋电机股份有限公司 发明人 山田努;濑川泰生;青田雅明
分类号 H01L29/786 主分类号 H01L29/786
代理机构 代理人 洪武雄;陈昭诚
主权项
地址 日本