发明名称 半导体装置
摘要 本发明之半导体装置1系包含具有开口6之黏晶垫5、定位于开口6之半导体晶片21及半导体晶片31。半导体晶片21包含端子面21a及位于端子面21a相反侧之非端子面21b。半导体晶片31系包含与非端子面21b及黏晶垫5相对之非端子面31a;及位于非端子面31a相反侧之端子面31b。其结果,可提供设计之自由度高且可高密度地安装半导体晶片之半导体装置者。
申请公布号 TW563240 申请公布日期 2003.11.21
申请号 TW091124208 申请日期 2002.10.21
申请人 三菱电机股份有限公司 发明人 板东晃司
分类号 H01L25/065 主分类号 H01L25/065
代理机构 代理人 赖经臣 台北市松山区南京东路三段三四六号一一一二室
主权项 1.一种半导体装置,其包含有:具备设有开口之黏晶垫;第1半导体晶片,具有作为端子面之第1面,及位于前述第1面之相反侧之第2面而定位在前述开口;及第2半导体晶片,具有与前述第2面与前述黏晶垫相对之第3面,及位于第3面之相反侧之位置且作为端子面之第4面者。2.如申请专利范围第1项之半导体装置,其中,又具备用以覆盖与前述第1及第4面连接之接合引线、连接于前述接合引线之引线端子、前述第1及第2半导体晶片、前述引线端子之一部分、前述接合引线以及前述黏晶垫而设之树脂。3.如申请专利范围第2项之半导体装置,其中,前述树脂系含有选自环氧树脂、矽树脂及矽环氧混合树脂所成之群中之至少一种者。4.如申请专利范围第2项之半导体装置,其中,更具有设在前述第1或第4面之电晶体;前述电晶体与前述引线端子系电性连接者。5.如申请专利范围第1项之半导体装置,其中,更具有设在前述第1或第4面之被动元件者。6.如申请专利范围第1项之半导体装置,其中,更具有安装在前述第1或第4面之第3半导体晶片者。7.如申请专利范围第6项之半导体装置,其中,更具有与前述第1及第4面连接之接合引线;连接于前述接合引线之引线端子;以及以覆盖前述第1及第2半导体晶片;前述第3半导体晶片之一部分;前述引线端子之一部分;前述接合引线及黏晶垫之方式而设之树脂,前述第3半导体晶片系包含与前述第1或第4面相对之端子面、与前述端子面分开而设之未形成有端子之面,前述未形成有端子之面为从前述树脂露出者。8.如申请专利范围第7项之半导体装置,其中,前述树脂系含有选自环氧树脂、矽树脂及矽环氧混合树脂所成之群中之至少一种者。图式简单说明:图1为显示本发明实施形态1之半导体装置之剖视图。图2至图9为显示图示之半导体装置之制造方法之步骤;其中,图2.图8及图9为立体图,而图3至图7为剖视图。图10为显示本发明实施形态2之半导体装置之剖视图。图11为显示本发明实施形态3之半导体装置之剖视图。图12为显示本发明实施形态4之半导体装置之剖视图。图13为显示本发明实施形态5之半导体装置之剖视图。图14为显示如日本特开2001-127244号公报揭示之多晶片半导体装置之俯视图。图15为显示沿着图14中之XV-XV线上之多晶片半导体装置之剖视图。
地址 日本