发明名称 集成电路器件和微机电组件的整体制造方法
摘要 一种集成电路器件及微机电组件的整体制造方法,包括下列步骤:提供一半导体衬底,该半导体衬底分为集成电路区域以及微机电组件区域,且该集成电路区域形成有一集成电路器件;淀积一绝缘层于该集成电路区域以及微机电组件区域上;蚀刻该绝缘层,以分隔该集成电路区域以及微机电组件区域上的绝缘层,其中集成电路区域上的绝缘层为一内层介电层,且该微机电组件区域上的绝缘层作为一牺牲层;淀积一结构层于该微机电组件区域上;淀积一介电层于该结构层及该内层介电层上;于该介电层中形成多个介电层孔,以暴露出该集成电路区域与该微机电组件区域的接触区;以及于该介电层上淀积一金属层,该金属层填入该介电层孔中。
申请公布号 CN1481011A 申请公布日期 2004.03.10
申请号 CN02131994.4 申请日期 2002.09.04
申请人 旺宏电子股份有限公司 发明人 杜硕伦;江禄山;朱世麟
分类号 H01L21/70;B81C1/00 主分类号 H01L21/70
代理机构 隆天国际知识产权代理有限公司 代理人 陈红;楼仙英
主权项 1.一种集成电路器件及微机电组件的整体制造方法,包括下列步骤:a)提供一半导体衬底,其中该半导体衬底分为集成电路器件区域以及微机电组件区域,且该集成电路区域形成有一集成电路器件;b)淀积一绝缘层于该集成电路区域以及微机电组件区域上;c)蚀刻该绝缘层,以分隔该集成电路区域以及微机电组件区域上的绝缘层,其中,集成电路区域上的绝缘层作为一内层介电层,且该微机电组件区域上的绝缘层作为一牺牲层;d)淀积一结构层于该微机电组件区域上;e)淀积一介电层于该结构层及该内层介电层上;f)于该介电层中形成多个介电层孔,以暴露出该集成电路区域与该微机电组件区域的接触区;以及g)于该介电层上淀积一金属层,且该金属层填入该介电层孔。
地址 台湾省新竹