| 主权项 |
1.一种记忆卡测试流程,其步骤为:a.备置有未经测试之记忆卡半成品;b.备置一载入平台、一测试平台:一标示平台、一卸载平台;c.载入;将记忆卡半成品送入载入平台,由该载入平台将记忆卡半成品送入测试平台;d.测试:由测试平台测试记忆卡半成品,良品送入标示平台,不良品则送出该测试平台;e.标示:将送入标示平台之记忆卡半成品进行标示作业后,再将记忆卡送入卸载平台;f.卸载:送入卸载平台之记忆卡经由卸载平台送出,以进行后续包装作业者。2.如申请专利范围第1项所述之记忆卡测试流程,其中,该标示平台系为一雕刻作业平台者。3.如申请专利范围第2项所述之记忆卡测试流程,其中,该雕刻作业平台系为一雷射雕刻作业平台者。4.如申请专利范围第2或3项所述之记忆卡测试流程,其中,该雕刻作业平台设定之雕刻内容包括记忆卡容量、批号、日期码、名称等记忆卡之相关资讯者。5.如申请专利范围第1项所述之记忆卡测试流程,其中,该载入平台、测试平台、标示平台、卸载平台系设置于一连续机台上,以进行连续作业者。6.一种记忆卡测试流程,其步骤为:a.备置有未经测试之记忆卡半成品;b.备置一测试机台,该机台具有载入平台、测试平台、标示平台、卸载平台;c.将记忆卡半成品送入该机台之载入平台,由该载入平台将记忆卡半成品送入测试平台;d.由测试平台测试记忆卡半成品,良品送入标示平台,不良品则送出该机台;e.将送入标示平台之记忆卡半成品进行标示作业后,再将记忆卡送入卸载平台;f.送入卸载平台之记忆卡经由卸载平台送出,以进行后续包装作业者。7.如申请专利范围第6项所述之记忆卡测试流程,其中,该标示平台系为一雕刻作业平台者。8.如申请专利范围第7项所述之记忆卡测试流程,其中,该雕刻作业平台系为一雷射雕刻作业平台者。9.如申请专利范围第7或8项所述之记忆卡测试流程,其中,该雕刻作业平台设定之雕刻内容包括记忆卡容量、批号、日期码、名称等记忆卡之相关资讯者。10.一种记忆卡测试机台,该机台具有载入平台、测试平台、标示平台、卸载平台;藉此,将记忆卡半成品送入载入平台,由该载入平台将记忆卡半成品送入测试平台,再由测试平台测试记忆卡半成品,良品送入标示平台,不良品则送出该机台,将送入标示平台之记忆卡半成品进行标示作业后,再将记忆卡送入卸载平台,送入卸载平台之记忆卡经由卸载平台送出,以进行后续包装作业者。11.如申请专利范围第10项所述之记忆卡测试机台,其中,该标示平台系为一雕刻作业平台者。12.如申请专利范围第11项所述之记忆卡测试机台,其中,该雕刻作业平台系为一雷射雕刻作业平台者。13.如申请专利范围第11或12项所述之记忆卡测试机台,其中,该雕刻作业平台设定之雕刻内容包括记忆卡容量、批号、日期码、名称等记忆卡之相关资讯者。图式简单说明:第一图系本发明之作业机台之示意图。第二图系本发明之制造流程方块图。 |
