发明名称 模式预测用之动态适应性取样方法
摘要 本发明提供一种动态调整关于晶圆检测之取样率的方法与装置。一制程步骤系进行于大量相关的复数个工作件上。决定与至少一制程工作件有关取得测量资料的取样率。进行动态取样率调整制程,以适应性地修改该取样率。该动态取样率调整制程包括比较预测的制程结果与实际的制程结果,并且依据该比较情形修改该取样率。
申请公布号 TW200416504 申请公布日期 2004.09.01
申请号 TW092133660 申请日期 2003.12.01
申请人 高级微装置公司 发明人 桑德曼;帕沙丁;杰利
分类号 G05B13/04 主分类号 G05B13/04
代理机构 代理人 洪武雄;陈昭诚
主权项
地址 美国
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