发明名称 半导体装置的制造方法、半导体制造装置的自动运转方法及自动运转系统、以及CMP装置的自动运转方法
摘要 〔课题〕在CMP工程等人工作业比率高的半导体制造工程中,推展自动化,谋求少人化合理化、处理能力提升、投资金额压缩、间接业务效率提升。〔解决手段〕在CMP处理中,只将产品晶圆之处理程式24由主电脑19下载于CMP装置11,在处理产品晶圆前,藉由进行事先决定的虚拟晶圆之处理,可实现无人化运转。另外,将搭载于无人化运转之CMP装置11的膜厚测量装置17之测量资料和研磨时间等之处理资料一同由CMP装置11传送给主电脑19,可依据最新的资料来变更CMP装置11的程式之条件,依据前述膜厚测量资料而前馈式的活用于下一工程之处理条件,可省略下一工程之测量工程。
申请公布号 TW200425320 申请公布日期 2004.11.16
申请号 TW093109124 申请日期 2004.04.01
申请人 联晶半导体股份有限公司 发明人 土山洋史;西原晋治;青柳雅博
分类号 H01L21/304 主分类号 H01L21/304
代理机构 代理人 林志刚
主权项
地址 日本