以错误态样为导向之记忆体缺陷诊断方法及其系统

摘要

本发明揭示一种以错误态样为导向之记忆体缺陷诊断方法及其系统，其系于记忆体在经过侦错及分析模组(Memory Error Catch and Analysis，MECA)作业后，再进行错误态样(fault pattern)与失效态样(failure pattern)之分析与比对。藉由比对一预先模拟并蒐集之缺陷对照库(defectdictionary)所定义之不同错误态样之可能发生的缺陷，即可找出该记忆体在制程或设计上实际发生的问题。