发明名称 判断装置测试用记忆体需求之方法与系统
摘要 测试装置测试用记忆体需求之方法与系统被揭示。在一实施例中,该方法包含读取包括有将被施用至一装置之数个测试向量的一测试档与判断执行该等数个测试向量所需的被要求之一记忆体。
申请公布号 TW200512471 申请公布日期 2005.04.01
申请号 TW093108862 申请日期 2004.03.31
申请人 安捷伦科技公司 发明人 海豪 瑞德
分类号 G01R31/3183 主分类号 G01R31/3183
代理机构 代理人 恽轶群;陈文郎
主权项
地址 美国