发明名称 浅沟隔离方法及结构
摘要 一种利用浅沟隔离(STI)技术制造积体电路(IC)之方法。该浅沟隔离技术使用于应变矽(SMOS)制程。于形成沟渠(34)后形成应变材料(36)。制程能使用于埋置之氧化物(buried oxide;Box)层(14)之上之化合物半导体层(16)。
申请公布号 TW200529318 申请公布日期 2005.09.01
申请号 TW094100447 申请日期 2005.01.07
申请人 高级微装置公司 发明人 相奇;潘南西;丘政锡
分类号 H01L21/306 主分类号 H01L21/306
代理机构 代理人 洪武雄;陈昭诚
主权项
地址 美国