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发明名称
浅沟隔离方法及结构
摘要
一种利用浅沟隔离(STI)技术制造积体电路(IC)之方法。该浅沟隔离技术使用于应变矽(SMOS)制程。于形成沟渠(34)后形成应变材料(36)。制程能使用于埋置之氧化物(buried oxide;Box)层(14)之上之化合物半导体层(16)。
申请公布号
TW200529318
申请公布日期
2005.09.01
申请号
TW094100447
申请日期
2005.01.07
申请人
高级微装置公司
发明人
相奇;潘南西;丘政锡
分类号
H01L21/306
主分类号
H01L21/306
代理机构
代理人
洪武雄;陈昭诚
主权项
地址
美国
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