发明名称 Analysis apparatus and method of surface roughness
摘要 본 발명은 표면 거칠기 분석 장치 및 분석방법에 관한 것으로, 해결하고자 하는 기술적 과제는 표면 거칠기에 대해 주파수 분석을 실시간으로 확인할 수 있고, 번거롭게 스케일자를 이용하여 계산하는 과정을 입력 장치를 통해 커서로 입력함에 따라, 표면 거칠기에 대해 신속하고 손쉽게 분석할 수 있고, 실시간으로 거칠기의 오류 또는 저하 발생이 확인할 수 있으므로, 이상 발생 시 가공 공정 조건을 바로 변경하여 면조도 개선이 용이하게 하는데 있다. 이를 위해 본 발명은 가공 장치를 통해 가공된 표면의 거칠기를 측정하는 측정 장치와, 측정 장치와 전기적으로 연결되어, 측정 장치에서 측정된 표면 거칠기 정보를 주기적인 파형으로 표시하는 표시 장치 및, 표시 장치와 전기적으로 연결되어, 표시 장치에 표시된 표면 거칠기 정보에 대한 파형의 피크투피크를 클릭을 통해 입력하는 입력 장치를 포함하며, 표시 장치는 입력장치를 통해 입력된 피크투피크값에 대한 주파수를 산출하여 표시하는 표면 거칠기 분석 장치 및 분석방법을 개시한다.
申请公布号 KR101676538(B1) 申请公布日期 2016.11.15
申请号 KR20140165271 申请日期 2014.11.25
申请人 현대위아 주식회사 发明人 배문재
分类号 B23Q17/20;G01B21/30;G05B19/401 主分类号 B23Q17/20
代理机构 代理人
主权项
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