| 摘要 |
一种IC检测装置(二)，其系于测试台之两侧设有具取料器之第一、二取料机构，该第一、二取料机构系于机架上均设有横移结构及升降结构，并由二驱动源驱动，以带动取料器各别作X－Z方向位移，另于测试台之前后设有入、出料机构，进而该第一取料机构由入料机构上吸取IC，并载送至测试台进行测试，而第二取料机构即横移至入料机构以吸取IC，第一取料机构于IC测试完毕后，则载送至出料机构上出料，而第二取料机构即将IC载送至测试台测试，此时第一取料机构再重覆进行取料作业；藉此，各取料机构系独立作动，可易于提升组装精度及载送速度，进而更加提高检测效率。 |
